Предмет:
Тема:
Тепловое излучение. Фотоэффект
Вопрос:
На рисунке представлены две вольтамперные характеристики вакуумного фотоэлемента. Если 
– освещенность фотокатода, а
– длина волны падающего на него света, то справедливо утверждение …
Ответы:
+ 
; 
; − 
; 
; − 
; 
; − 
; 
; Решение:
Приведенные на рисунке вольтамперные характеристики отличаются друг от друга величиной задерживающего напряжения: 
. Величина задерживающего напряжения определяется максимальной скоростью фотоэлектронов: 
. С учетом этого уравнение Эйнштейна можно представить в виде 
. Отсюда поскольку 
, 
. При этом учтено, что 
остается неизменной. Освещенность фотокатода влияет на величину фототока насыщения. Для приведенных вольтамперных характеристик он одинаков, поэтому 
.
ответ тест i-exam
. Величина задерживающего напряжения определяется максимальной скоростью фотоэлектронов: . С учетом этого уравнение Эйнштейна можно представить в виде . Отсюда поскольку , . При этом учтено, что остается неизменной. Освещенность фотокатода влияет на величину фототока насыщения. Для приведенных вольтамперных характеристик он одинаков, поэтому .ответ тест i-exam
Похожие вопросы:
и 
, а их постоянные 
и 
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме m, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума m стало таким, как показано на рисунке 2. Постоянная решетки и число щелей у этих решеток соотносятся следующим образом …
и 
, а их постоянные 
и 
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме m, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума m стало таким, как показано на рисунке 2. Постоянная решетки и число щелей у этих решеток соотносятся следующим образом …
и 
, а их постоянные 
и 
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме m, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума m стало таким, как показано на рисунке 2. Постоянная решетки и число щелей у этих решеток соотносятся следующим образом...
и 
. У экспериментатора имеется две дифракционных решетки с числом щелей 
и 
, и с постоянными 
и 
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме 
, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума 
стало таким, как показано на рисунке 2.
и 
. У экспериментатора имеется две дифракционных решетки с числом щелей 
и 
, и с постоянными 
и 
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме 
, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума 
стало таким, как показано на рисунке 2.