Предмет:
Тема:
Тепловое излучение. Фотоэффект
Вопрос:
На рисунке представлены две вольтамперные характеристики вакуумного фотоэлемента. Если Е – освещенность фотокатода, а l – длина волны падающего на него света, то справедливо следующее утверждение …

Ответы:
+ 

− 

− 

− 

Решение:
Приведенные на рисунке вольтамперные характеристики отличаются друг от друга величиной задерживающего напряжения (
) и величиной тока насыщения (
). Величина задерживающего напряжения определяется максимальной скоростью фотоэлектронов:
. С учетом этого уравнение Эйнштейна можно представить в виде
. Отсюда, поскольку
,
. При этом учтено, что
остается неизменной. На величину фототока насыщения влияет освещенность фотокатода: согласно закону Столетова, фототок насыщения пропорционален энергетической освещенности фотокатода. Поэтому
.
ответ тест i-exam
) и величиной тока насыщения (
). Величина задерживающего напряжения определяется максимальной скоростью фотоэлектронов:
. С учетом этого уравнение Эйнштейна можно представить в виде
. Отсюда, поскольку
,
. При этом учтено, что
остается неизменной. На величину фототока насыщения влияет освещенность фотокатода: согласно закону Столетова, фототок насыщения пропорционален энергетической освещенности фотокатода. Поэтому
.ответ тест i-exam
Похожие вопросы:
и
, а их постоянные
и
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме m, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума m стало таким, как показано на рисунке 2. Постоянная решетки и число щелей у этих решеток соотносятся следующим образом …
и
, а их постоянные
и
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме m, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума m стало таким, как показано на рисунке 2. Постоянная решетки и число щелей у этих решеток соотносятся следующим образом...
и
, а их постоянные
и
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме m, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума m стало таким, как показано на рисунке 2. Постоянная решетки и число щелей у этих решеток соотносятся следующим образом …
и
. У экспериментатора имеется две дифракционных решетки с числом щелей
и
, и с постоянными
и
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме
, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума
стало таким, как показано на рисунке 2.
и
. У экспериментатора имеется две дифракционных решетки с числом щелей
и
, и с постоянными
и
, соответственно. При нормальном падении света на дифракционную решетку 1 получено изображение в максимуме
, показанное на рисунке 1. После того, как дифракционную решетку 1 поменяли на решетку 2, изображение максимума
стало таким, как показано на рисунке 2.